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ACQUITY Arc高效液相色譜系統(tǒng)是一款現(xiàn)代化的四元LC系統(tǒng),通用性和穩(wěn)定性俱佳,一方面HPLC與UHPLC之間的技術空白,另一方面又能繼續(xù)支持經(jīng)過驗證的分...
多功能雙光子成像平臺 2pplus多光子顯微鏡利用近紅外/紅外激光激發(fā)樣品熒光,具有低毒性和高成像深度特點,適用于厚活體組織和生物標本成像。Bruker的雙光子...
高品質(zhì)雙光子成像系統(tǒng) Investigator多光子顯微鏡利用近紅外/紅外激光激發(fā)熒光基團,具備低光毒性和高成像深度特點,適用于厚活體組織及生物標本的成像和功能...
場掃描共聚焦成像系統(tǒng) Opterra II激光共聚焦顯微鏡因其高分辨率和良好的光學層切能力成為生命科學研究的重要工具,但傳統(tǒng)的點掃描方式存在成像速度慢、光毒性大...
雙焦面成像系統(tǒng) Vutura352Bruker的Vutura產(chǎn)品采用雙焦面三維實時單分子定位技術,實現(xiàn)快速、低光毒性的超高分辨成像。該系統(tǒng)不僅能提供單分子熒光信...
納米化學成像及紅外光譜Dimension IconIRDimension IconIR是Bruker公司推出的一款集成了納米紅外光譜技術和掃描探針顯微鏡技術的系...
納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)AnasysnanoIR2-s是2015年Anasys發(fā)布的最新一代納米紅外光譜系統(tǒng),新增了散射近場光學成像和光譜功能(s-SNO...
三維光學輪廓儀NPFLEX-1000NPFLEX-1000白光干涉測量系統(tǒng)具備開放式龍門架設計,可在多種形狀和尺寸的樣品上進行精確測量,具備一鍵高級查找表面功能...
三維光學輪廓儀ContourX-1000落地式ContourX-1000 白光干涉系統(tǒng)集成了Bruker 的,支持全自動三維表面紋理和粗糙度測量。其一鍵式高級尋...
光學輪廓儀NPFLEX 3DNPFLEX三維表面測量系統(tǒng)是一款針對大樣品設計的非接觸測試分析系統(tǒng),提供高效的三維表面信息測量,具備垂直方向亞納米分辨率,能靈活測...
布魯克三維光學顯微鏡Contour Elite布魯克Contour Elite™三維光學顯微鏡結合了逼真成像與可信測量數(shù)據(jù),提供簡易直觀的操作界面,...
Dektak XT 布魯克臺階儀-表面輪廓儀臺階儀這項性能的提到了過去四十年Dektak技術,更加鞏固了其行業(yè)地位。
Dektak XTL 探針式輪廓儀新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復性和再現(xiàn)性應用于大尺...
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100ContourX-100光學輪廓儀是準確和可重復的非接觸式表面計量設備。
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀快速,非接觸式3D表面計量自動化臺式系統(tǒng)。
ContourX-200三維光學輪廓儀用于加工的表面,薄膜,半導體,眼科,醫(yī)療設備,MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
布魯克NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。
ContourGT-X光學輪廓儀實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。它積累了*代產(chǎn)品在白光干涉技術上的,實現(xiàn)了快速地三維表面測量,從納米級粗糙度表面的測量到毫米...
光學輪廓儀系統(tǒng)ContourGT-I汽車發(fā)動機、軸承、醫(yī)療器械、光學鏡片、半導體、LED、太陽能、生物醫(yī)學、高校、研究院測試過程更快、更便捷。
Xevo TQ-GC質(zhì)譜系統(tǒng)Xevo TQ-GC是一款穩(wěn)定的電子轟擊(EI)和化學電離(CI)氣相色譜(GC)-MS/MS平臺,能夠對基質(zhì)樣品中的多種污染物進行...
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